Plataforma de difracció de raigs X
La difracció de raigs X (XRD) és una potent tècnica no destructiva per caracteritzar materials cristal·lins en molts materials sòlids diferents (orgànics, inorgànics i metal·orgànics). Tot i que la majoria de les altres tècniques analítiques proporcionen informació elemental o molecular d'una mostra, la XRD és única en proporcionar una àmplia gamma d'informació sobre estructures, fases cristal·lines, paràmetres de gelosia, orientacions preferides dels cristalls i altres paràmetres estructurals com ara, mida de partícula, tensió, tensió, i defectes del cristall.
La instal·lació de difracció de raigs X de l'ICN2 està dedicada a donar suport a les activitats de recerca dels grups ICN2, la comunitat de recerca del voltant o empreses privades. La instal·lació disposa de l'equip i els coneixements adequats per tractar amb nanopols i materials de pel·lícula fina. Les mostres solen venir dels camps de la Química, la Física i la Ciència dels Materials.
La instal·lació XRD està equipada amb dos difractòmetres PANalytical de Malvern versàtils i avançats: un difractòmetre multiusos (MPD) per a materials en pols i un difractòmetre de recerca de materials (MRD) per a pel·lícules primes.
Els instruments permeten realitzar anàlisis rutinàries de pols i identificació de fases, fins a mesures més sofisticades, com ara la difracció de l'angle de pastura, la reflectometria de raigs X, els estudis de dispersió difusa en nanopols (SAXS), l'anàlisi d'alta resolució i el mapeig recíproc de l'espai en pel·lícules epitaxials, difracció plana, així com difracció en condicions no ambientals (alta temperatura i atmosfera controlada).
Serveis
Equipament
- Malvern PANalytical X’pert Pro MPD El MPD (Materials Powder Diffractometer) és adequat per a l’anàlisi de mostres policristalines a temperatura ambient. Aquest difractòmetre té un goniòmetre vertical theta-theta (240 mm de radi), on l’etapa de mostra està fixa i no gira al voltant de l’eix omega com en els difractòmetres ω-2θ.
- Malvern PANalytical X’pert Pro MRD El MRD (Materials Research Diffractometer) és adequat per a la caracterització estructural de materials de pel·lícules primes a temperatura ambient i alta. Aquest difractòmetre té un goniòmetre ω-2θ horitzontal (320 mm de radi) en una geometria de quatre cercles i funciona amb un tub de raigs X de ceràmica amb ànode Cu Kα (λ=1,540 Å). Aquest difractòmetre està equipat amb diferents òptiques incidents i difractades que es poden intercanviar en funció de l’aplicació requerida (és a dir, un mirall parabòlic, un monocromador híbrid, un monocromador de quatre cristalls Ge(440), un col·limador de plaques paral·leles i una lent policaril·lar).
