NCL - Laboratori de Nano-Caracterització
GINYS-ICFO-005
Prof. Dr. Gerasimos Konstantatos
NCL Chair
La instal·lació de Nano-Characterization Lab ofereix serveis d'última generació per a la caracterització de nanomaterials i nanoestructures desenvolupats a l'ICFO, tant dins dels diferents grups com a la instal·lació de nanofabricació (NFL).
Les instal·lacions d'equips úniques de NCL ofereixen múltiples tècniques de caracterització per obtenir imatges de materials optoelectrònics, estructures nanofotòniques i dispositius d'aquests en múltiples escales de longitud utilitzant fotons, electrons, forces mecàniques i raigs X com a sondes.
Serveis
Tècniques disponibles
- Microscòpia electrònica: la instal·lació ofereix una suite de microscòpia electrònica d’última generació amb actualment 2 SEM, un que ofereix una resolució ultra alta a energies de feix alt i baix per a mostres sensibles a la superfície.
- Instal·lació de difracció de raigs X: NCL també disposa d’una instal·lació de difracció de raigs X per a mesures de pols i pel·lícula fina, que inclou també reflexió de raigs X per a mesures de pel·lícula fina.
- Ellipsometria espectroscòpica: l’ellipsometria espectroscòpica de NCL que cobreix un rang espectral molt ampli de 300 nm a 20 μm, proporciona informació sense precedents sobre les propietats òptiques dels materials i estructures fotòniques en un rang tan ampli.
- Microscòpia de sonda d’escaneig: NCL ofereix diversos sistemes de microscòpia de sonda d’escaneig d’última generació que ofereixen diverses tècniques, com ara AFM, AFM (foto)conductor, AFM amb sonda Kelvin, AFM CAP d’escaneig, etc.
Personal
Prof. Dr. Gerasimos Konstantatos | gerasimos.konstantatos@icfo.eu
| +34 935534182 | ORCID
Dr. Johann Osmond | johann.osmond@icfo.eu
| +34 935534030 | ORCID
