Difracció d'electrons
El difractòmetre d'electrons XtaLAB Synergy-ED està optimitzat per a una recopilació de dades ràpida i efectiva per a la determinació d'estructures moleculars tridimensionals. És el resultat d'una col·laboració innovadora que resulta de fusionar tecnologies de dues empreses tecnològiques: el detector d'electrons ràpid i altament sensible de Rigaku (HyPix-ED) i una plataforma avançada de gestió d'instruments i anàlisi de cristalls únics (CrysAlisPro per a ED), amb l'àmplia experiència i lideratge en el mercat de JEOL en el disseny i fabricació de microscopis electrònics de transmissió.
El difractòmetre d'electrons integrat garanteix un flux de treball ininterromput des de la recopilació de dades fins a la interpretació d'estructures moleculars en 3D.
Aquest equip té la capacitat d'examinar mostres nanocristal·lines, gràcies a les característiques de la difracció d'electrons i pot mesurar cristalls que tenen centenars de nanòmetres o fins i tot menys de mida. Aquesta escala és milers de vegades més petita del que es pot analitzar utilitzant un sincrotró, per exemple.
Aquest aparell està equipat per funcionar en un ampli espectre de temperatures, des de 100 K fins a 1000 K. És una tècnica molt versàtil amb la qual es poden dur a terme experiments de cristal·litzacions in situ, el·lucidació d'estructures absolutes o difracció de pols, entre d'altres.
Serveis
- Estructura de nanocristalls. El dispositiu compta amb un detector ràpid i un goniòmetre d’àmpli rang, el que permet la recopilació de dades completes en qüestió de minuts.
- Indexació. Permet l’indexació ràpida de nanocristalls en segons.
- Cristal·lització in situ. El dispositiu de baixa temperatura permet la cristal·lització in situ de mostres sensibles. També es pot cristal·litzar in situ a partir de dissolucions.
- Mesures a 100 K. Pot realitzar mesures a temperatures de 100 K, millorant l’estabilitat de la mostra i la qualitat de la mesura.
- Preparació de mostres a 100 K. El difractòmetre d’electrons està equipat amb un criostat extern per preservar mostres inestables.
- Forn per a mesures de fins a 1000 K. Per a anàlisis especials, compta amb un forn intern que arriba a temperatures de fins a 1000 K
- Configuració absoluta. Utilitzant aquesta metodologia, és possible determinar la configuració absoluta de compostos, fins i tot quan la mida dels seus cristalls es troba en el rang de centenars de nanòmetres.
Equipament
Difractòmetre d’electrons XtaLAB Synergy-ED. 200 KeV equipat amb un detector híbrid de píxels HyPix-ED.
Suport de transferència criogènica Gatan fins a -173 K.
Forn JEOL EM-21130 fins a 800 ºC (1073 K).
Personal
Dr. Jordi Benet | jbenet@iciq.cat
| 977 920 200 (ext. 303)
Dr. Marta Martínez | mmartinez@iciq.es
| 977 920 200 (ext. 311)
Dr. Eduardo C. Escudero-Adán | eescudero@iciq.es
| 977 920 238 | ORCID
