Difracció de raigs X
GINYS-ICIQ-002
La Unitat de Difracció de raigs X recull totes les tècniques que es basen en la difracció de raigs X sobre sòlids cristal·lins. Dona suport en la caracterització de compostos químics que estan disponibles en estat cristal·lí.
Hi ha dues tècniques principals disponibles: difracció de raigs X en pols (PXRD) i difracció de raigs X de cristall únic (SCXRD).
La tècnica PXRD s'utilitza bàsicament com a mètode de cribratge primari i ofereix una empremta digital de cada forma cristal·lina diferent analitzada. Aquest mètode dóna un servei bàsic a tots els usuaris de l'ICIQ amb un sistema que permet una fàcil preparació de mostres i un temps de mesurament curt per a un gran nombre de mostres.
La tècnica SCXRD ofereix una estructura tridimensional a escala atòmica d'un compost cristal·lí seleccionat. Aquest mètode està altament especialitzat amb un sistema combinat a partir de components d'alt rendiment. L'objectiu en aquest cas és donar un suport directe als grups de recerca resolent problemes en tots els nivells de dificultat. Aquest suport inclou la cristal·lització de mostres problemàtiques, la preparació de cristalls de mala qualitat i el perfeccionament de conjunts de dades preocupants.
Serveis
SINGLE CRYSTAL ELECTRON DIFFRACTION
Structure of nanocrystals – Indexing – Measurements from 100
k to 1000K
k to 1000K
X-RAY SINGLE CRYSTAL DIFFRACTION
Absolute Configuration – Crystallization of compounds –
Inert Conditions – 100K to 500K – Cu and Mo radiation
Inert Conditions – 100K to 500K – Cu and Mo radiation
POWDER DIFFRACTION
Humidity/Temperature Ramp Rate – SAXS -GIXRD – Kα1
Equipament
- Sistema de difracció de raigs X en pols D8 Advance Series 2Theta/Theta utilitzant radiació CuKa en geometria de transmissió. El sistema està equipat amb un PSD de recompte de fotons únics VÅNTEC-1, un monocromador de germani, una etapa de mostreig de canvi automàtic de noranta posicions, ranures de divergència fixes i un solller radial. Programes disponibles: Recollida de dades amb DIFFRAC plus XRD Commander V.2.4.1 i avaluació amb EVA V.12.0. i TOPAS V.6.
- Ànode giratori Rigaku Single Crystal : Difractòmetre Rigaku equipat amb un detector d’àrea Pilatus 200K, un ànode rotatiu de microfocus Rigaku MicroMax-007HF amb radiació MoK a , òptica Confocal Max Flux i un dispositiu de baixa temperatura Oxford Cryosystems Cryostream 700 plus ( T = 90-500 K). Programes disponibles: – CrystalClear-SM Expert 2.1 b29 – CrysAlisPro 1.171.39.46,
- DUO Bruker Single Crystal : Difractòmetre Bruker Apex DUO equipat amb un goniòmetre Kappa de 4 eixos, un detector d’àrea CCD APPEX 2 4K, una font de microfocus E025 IuS amb radiació Mo K a , una font de microfocus E025 IuS amb radiació Cu K a , Quazar MX multicapa Optics com a monocromador i un dispositiu de baixa temperatura Oxford Cryosystems Cryostream 700 plus (T = 90-500 K). Programes disponibles: – Recollida de dades amb APEX II versió v2013.4-1. Reducció de dades amb Bruker SAINT versió V8.37A. – Correcció de l’absorció amb SADABS v2016-2 i TWINABS v2012/1. – Mesures de Difracció de raigs X en pols i temperatura variable amb la utilitat en Pilot: XRD 2 Eval (Bruker AXS).
- Programes generals disponibles/utilitzats per al processament d’estructures, solució i perfeccionament : – SHELXT; V2014/4 – SIR2014 v17.10 – SHELXle – SHELXL-2018/3 – Cristalls – Versió Wingx 2014.1 – Platon – MoPro.05i v1
Personal
Dr. Marta Martínez | mmartinez@iciq.es
| 977 920 200 (ext. 311)
Dr. Eduardo C. Escudero-Adán | eescudero@iciq.es
| 977 920 238 | ORCID
Dr. Jordi Benet | jbenet@iciq.cat
| 977 920 200 (ext. 303)
