Plataforma de espectroscopia de fotoemisión (XPS&UPS)

GINYS-ICN2-004
Guillaume Sauthier
Tècnic investigador de la Instal·lació d'Espectroscòpia de Fotoemissió
La instalación de fotoemisión del ICN2 alberga un sistema XPS y UPS de última generación que permite la caracterización superficial, química y electrónica de una amplia gama de materiales. La instalación ofrece servicios a clientes tanto internos como externos de ICN2. XPS y UPS son técnicas sensibles a la superficie porque los electrones viajarán sólo unos pocos nanómetros en el sólido antes para perder energía por interacción inelástica, lo que significa que los electrones analizados provienen de la superficie superior del material. Por ello, en espectroscopia de fotoemisión, la muestra se coloca en un vacío ultra alto (UHV) para proteger la superficie de la contaminación y permitir que los electrones emitidos de los sólidos lleguen al analizador. XPS, debido a la energía más alta de la fuente de rayos X, da acceso al nivel del núcleo permitiendo la determinación de la estructura química de los materiales ya que los niveles del núcleo tienen un pequeño desplazamiento químico en función del entorno químico del átomo que está ionizado. XPS también permite cuantificar los elementos presentes en el material . El UPS, debido a la menor energía de la luz UV, da acceso a los electrones de las bandas de valencia y permite, con SAI de resolución angular (ARUPS), observar la distribución de los electrones en el espacio recíproco de los sólidos.

Servicios

COMPATIBLE CON MUESTRAS

Las muestras medidas en las instalaciones de fotoemisión ICN2 son principalmente polvo, fibras y películas. Las muestras líquidas pueden depositarse sobre el sustrato adecuado antes de la introducción en el sistema de vacío.

El tamaño máximo permitido en el soporte de muestras es de 10 mm X 10 mm.

Equipos

Las espectroscopias de fotoemisión (XPS-UPS) son un conjunto de técnicas que permiten determinar la configuración electrónica de los materiales mediante el análisis de la energía cinética de los electrones expulsados ​​del material (por efecto fotoeléctrico) bajo irradiación con rayos X (XPS) o luz UV ( UPS).

El sistema XPS-UPS en ICN2 consta de 3 cámaras UHV (bloqueo de carga, preparación y análisis).

La cámara de análisis está equipada con un analizador hemisférico Phoibos 150 de SPECS con un radio medio de 150 mm (resolución de energía total de 2,9 meV), fuente de rayos X con ánodo dual (Al Ka ​​1486,74eV y Ag La 2984,3eV) y monocromador, manipulador de 4 ejes Calentamiento de muestras hasta 1200K por ebeam y enfriamiento de muestras por N2 (l), fuente UV y monocromador para He I (21,2eV) y He II (40 ,8eV) y pistola de inundación para muestras aislantes.

La cámara de preparación está equipada con manipulador de 4 ejes con calentamiento de muestras hasta 1200 K por ebeam, pistola de pulverización no enfocada que trabaja con Ar para la limpieza de muestras, LEED y varios puertos CF40 disponibles para instalar evaporadores o otros accesorios.

Personal

Guillaume Sauthier | guillaume.sauthier@icn2.cat | 937 372 638 | ORCID | Página PRC

CENTRO

ICN2 - Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia

Edifici ICN2
UAB Campus Bellaterra

08193 Cerdanyola del Vallès (Bellaterra) http://www.icn2.cat/en/

ÁMBITOS RIS3CAT

  • Sistema d'energia i recursos
  • Sistema educativo y de generación de conocimiento
  • Sistema industrial

CATEGORÍAS

  • EQUIPAMIENTO TECNOLÓGICO
    • Espectrometría, cromatografía y espectroscopía

TARIFAS Y ACCESO

Nivel de disponibilidad: Media
Procedimiento de Acceso:

Abierto

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