Plataforma de difracción de rayos X

La difracción de rayos X (XRD) es una potente técnica no destructiva para caracterizar materiales cristalinos en muchos materiales sólidos distintos (orgánicos, inorgánicos y metalorgánicos). Aunque la mayoría de las otras técnicas analíticas proporcionan información elemental o molecular de una muestra, la XRD es única al proporcionar una amplia gama de información sobre estructuras, fases cristalinas, parámetros de celos, orientaciones preferidas de los cristales y otros parámetros estructurales tales como, tamaño de partícula, tensión, tensión, y defectos del cristal. La instalación de difracción de rayos X del ICN2 está dedicada a apoyar las actividades de investigación de los grupos ICN2, la comunidad de investigación de alrededor o empresas privadas. La instalación dispone del equipo y los conocimientos adecuados para tratar con nanopolvo y materiales de película fina. Las muestras suelen venir de los campos de la Química, la Física y la Ciencia de los Materiales. La instalación XRD está equipada con dos difractómetros PANalytical de Malvern versátiles y avanzados: un difractómetro multiusos (MPD) para materiales en polvo y un difractómetro de búsqueda de materiales (MRD) para películas delgadas. Los instrumentos permiten realizar análisis rutinarios de polvo e identificación de fases, hasta medidas más sofisticadas, como la difracción del ángulo de pasto, la reflectometría de rayos X, los estudios de dispersión difusa en nanopolos (SAXS), el análisis de alta resolución y el mapeo recíproco del espacio en películas epitaxiales, difracción plana, así como difracción en condiciones no ambientales (alta temperatura y atmósfera controlada).