NCL - Laboratorio de Nano-Caracterización
GINYS-ICFO-005
Prof. Dr. Gerasimos Konstantatos
NCL Chair
El Laboratorio de Nano-Caracterización ofrece servicios de última generación para la caracterización de nanomateriales y nanoestructuras desarrolladas en el ICFO, tanto dentro de los distintos grupos como en la instalación de nanofabricación (NFL).
Las exclusivas instalaciones de equipos de NCL proporcionan múltiples técnicas de caracterización para obtener imágenes de materiales optoelectrónicos, estructuras nanofotónicas y dispositivos de los mismos en múltiples escalas de longitud utilizando fotones, electrones, fuerzas mecánicas y rayos X como sondas.
Servicios
Técnicas disponibles
- Microscopía electrónica: la instalación ofrece un conjunto de microscopía electrónica de última generación con actualmente 2 SEM, uno de los cuales ofrece resolución ultraalta con energías de haz altas y bajas para muestras sensibles a superficies.
- Instalación de difracción de rayos X: NCL también cuenta con una instalación de difracción de rayos X para mediciones de polvo y películas delgadas, que también presenta reflexión de rayos X para mediciones de películas delgadas.
- Elipsometría espectroscópica: la elipsometría espectroscópica de NCL, que cubre un rango espectral muy amplio de 300 nm a 20 μm, proporciona información sin precedentes sobre las propiedades ópticas de materiales y estructuras fotónicas en un rango tan amplio.
- Microscopía de sonda de barrido: NCL proporciona varios sistemas de microscopía de sonda de barrido de última generación que ofrecen varias técnicas que incluyen AFM, AFM (foto)conductivo, AFM con sonda Kelvin, AFM con CAP de escaneo, etc.
Personal
Dr. Johann Osmond | johann.osmond@icfo.eu
| +34 935534030 | ORCID
Prof. Dr. Gerasimos Konstantatos | gerasimos.konstantatos@icfo.eu
| +34 935534182 | ORCID
